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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展首頁-產(chǎn)品展示--X-Ray檢測設(shè)備-賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series
更新時間:2024-12-11
產(chǎn)品型號:
簡要描述:賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging(WLP)領(lǐng)域里。
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賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series簡介:
該檢測設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube,廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging(WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺和各個高精度驅(qū)動軸,可以更加精準(zhǔn)的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進(jìn)行斷層分析,通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer,自動檢測,實現(xiàn)Full Auto全自動檢測的設(shè)備。
賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series特點:
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